Здравствуйте! На данный момент портал работает в режиме тестирования.
мама
123
Выбор редакции Наука Новости

В Зеленограде прошла 4-я Школа молодых ученых по электронной и зондовой микроскопии

Сегодня в здании Корпорации развития Зеленограда состоялась 4-я научная школа молодых ученых по электронной микроскопии «Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях наноструктур и наноматериалов». Она прошла в рамках XXVI Российской конференции по электронной микроскопии (РКЭМ – 2016), которая официально откроется с завтрашнего дня.

На мероприятии со своими лекциями выступили российские специалисты из Национального исследовательского центра (НИЦ) «Курчатовский институт», Института проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов (ИПТМ) РАН, компании «Системы для микроскопии и анализа» (СМА) и Института кристаллографии (ИК) РАН. Также свои доклады зачитали представители зарубежных компаний: немецкой Bruker и голландской FEI.

Слушателями школы стали молодые ученые как из России, так и стран СНГ. По словам сотрудницы Института физики Национальной академии наук (НАН) Беларуси Ирины Андрухович, для нее лекции были очень полезными и информативными.

Многие из участников мероприятия собираются не только посетить конференцию РКЭМ 2016, но и сами будут выступать с докладами по микроскопии. Так, аспирант из иркутского Института геохимии им. А.П. Виноградова (ИГХ) СО РАН Василий Татаринов сегодня помимо лекций в рамках школы еще посетил презентацию атомно-силового микроскопа НЕКСТ компании «НТ-МДТ», а 1 июня на конференции он прочтет вместе с коллегой доклад по электронной микроскопии на тему «Особенности РСМА и РЭМ при поиске и изучении состава минералов, содержащих редкие и благородные металлы в рудах разного типа». Еще один из слушателей школы, сотрудник зеленоградского НИУ «МИЭТ» Михаил Ловыгин также с коллегами выступит в рамках конференции на тему «Исследование структуры слоя низкотемпературного арсенида галлия методами просвечивающей электронной микроскопии».

Для участников мероприятия организована экскурсия на завод «Микрон».

Также в этот день прошли два мастер-класса: «Атомно-силовая микроскопия» от компании «НТ-МДТ» и «Цифровая отптическая 3D микроскопия» от ООО «Серния». На первом специалисты компании «НТ-МДТ» в режиме реального времени показали работу атомно-силового микроскопа НЕКСТ. В это же время ООО «Серния» продемонстрировала цифровой оптический микроскоп Keyence VHX-5000. Участники мастер-классов смогли задать экспертам компаний вопросы, а также провести измерения образцов.

Кроме этого, сегодня стартовал бизнес-форум «Россия-Израиль», в рамках которого состоялось знакомство израильских компаний с потенциальными партнёрами в Зеленограде. Он продолжится до закрытия конференции.

Об авторе

Валерия Щеголевская

Валерия Щеголевская

Главный редактор Russian IT World